Probenvorbereitung für Elektronik & Halbleiter
PRODUKTE
PROBENVORBEREITUNG FÜR ELEKTRONIK & HALBLEITER
Elektronik- und Halbleiterproben lassen sich in vier Hauptgruppen einteilen: Siliziumwafer, chipbasierte Bauelemente, elektronische Komponenten und Leiterplatten (PCB).
Die metallografische Untersuchung wird in der Regel an chipbasierten und elektronischen Bauelementen durchgeführt, um Hohlräume, Risse, Lötfehler, leitfähige Schichten und andere Defekte zu analysieren.
Aufgrund ihrer äußerst feinen Strukturen erfordern diese Proben hochpräzise Geräte für die metallografische Präparation, um reproduzierbare und verzerrungsfreie Ergebnisse zu erzielen.
PROBENPRÄPARATION FÜR ELEKTRONIK & HALBLEITER
Ziel der Probenpräparation ist es, verborgene Schichten oder Strukturen im Inneren der Probe sichtbar zu machen und den relevanten Untersuchungsbereich freizulegen. Dies wird in der Regel durch präzises Schleifen erreicht.
Befindet sich der interessierende Bereich jedoch weit vom Probenrand entfernt, kann ein gezielter Schneidvorgang eingesetzt werden, um die erforderliche Gesamtschleiftiefe zu reduzieren.
Nach dem Schneiden und Schleifen folgt das Polieren, bei dem Oberflächenkratzer entfernt werden, sodass das Gefüge unter dem Mikroskop klar erkennbar ist.
Metkon bietet hierfür spezielle Lösungen für die metallografische Präparation elektronischer Bauteile und Halbleitermaterialien, um reproduzierbare und präzise Ergebnisse zu gewährleisten.
VERBRAUCHSMITTEL
Hochwertige Verbrauchsmaterialien sind entscheidend, um konsistente und präzise Ergebnisse bei der Probenpräparation zu erzielen.
Metkon bietet ein umfassendes Sortiment an Trennscheiben, Einbettungsharzen, Schleifpapieren, Poliertüchern und weiterem Zubehör für alle Präparationsschritte.
Unsere Verbrauchsmaterialien sind auf Langlebigkeit, Leistung und Zuverlässigkeit ausgelegt und gewährleisten optimale Ergebnisse bei Materialprüfungen und metallografischen Analysen.
